Startup Photo Electron Soul Inc.とNagoya Universityによって共同開発されたGanベースのeビーム検査と計測学は、フラッシュメモリプロデューサーの主要なKioxiaによって評価されます。
パートナーシップは、高度な半導体製造のための検査と計測の主要なブレークスルーをマークします
本日、Nagoya University Startup Electron Soul Inc.（PES; CEO：Takayuki Suzuki）とNagoya University Amano-Honda derveraltorationが共同で開発した高度な半導体製造のGan（Gallium）ベースの電子ビーム検査とメトロロジーが発表されました。 9月下旬。重要なフィールドテスト中、Kioxia IWateは、この高度なテクノロジーを採用して、ライブ検査および計測プロセス内の欠陥検出と根acue症の分析を強化することにより、全体的な製造利回りを改善する利点を評価および検証します。
このプレスリリースには、マルチメディアが特徴です。ここで完全なリリースをご覧ください：
3Dフラッシュメモリは、メモリセルの積み重ねられた構造を特徴とする洗練されたデバイスです。 Kioxiaは、層の増加とより高い統合によってもたらされる製造上の課題に取り組む高度な検査および計測技術を開発しています。 Kioxiaによる評価中の2つの重要な技術（光電極Eビーム検査と計測）は、非接触電気検査、欠陥検出、および高アスペクト比構造の深い領域でのプロファイル測定などの重要な機能を可能にします。これらの機能は、DSEB（デジタル選択eビーム）やYCEB（収量制御eビーミング）など、GANベースのフォトカソードEビームテクノロジーに固有のものです。これらは、選択的なeビーム放射とビーム強度のリアルタイム制御を通じて革新的な検査と計測を可能にし、ビームの誤りを防ぎます。
「この評価は、私たちの検査と計測技術が比類のないことを証明する絶好の機会を提供します。他の検査ツールサプライヤーはまだ商品化されておらず、半導体製造環境で生産する準備ができています」 「これがキオキシアのコアテクノロジーになると確信しており、高度な検査と計測能力を大幅に向上させ、韓国と米国のライバルNandフラッシュプロデューサーを上回ることができます。」
キオキシアについて
Kioxiaは、フラッシュメモリおよびソリッドステートドライブ（SSD）の開発、生産、販売に特化した、メモリソリューションの世界リーダーです。 2017年4月、その前身の東芝の記憶は、1987年にNANDフラッシュメモリを発明した同社である東芝公社から追い出されました。キオキシアは、顧客に選択肢を生み出し、社会の記憶ベースの価値を生み出す製品、サービス、システムを提供することにより、「記憶」を高揚させることに取り組んでいます。 Kioxiaの革新的な3DフラッシュメモリテクノロジーであるBICS Flash™は、高度なスマートフォン、PC、自動車システム、データセンター、生成AIシステムなど、高密度アプリケーションのストレージの将来を形作っています。 Kioxia Iwate Corporationは、高度な3Dフラッシュメモリプラントです。
名古屋大学について
1939年に日本の7つの元帝国大学の1つとして設立された名古屋大学は、名古屋市に3つのキャンパスがある大手研究機関です。 9つの学部と13の大学院、3つの付属機関、5つの共有使用/研究ベース、21の専門的な共同教育研究施設で構成されています。 2020年、名古屋大学はGIFU大学と提携して、東海国立高等教育研究システムを設立しました。 Nagoya Universityは、大学に所属する6人のノーベル賞受賞者の仕事を含む、世界クラスの研究業績を多く達成しました。それは、コラボレーション教育と研究の将来を見据えたモデルを促進しながら、世界クラスの研究を開拓し続けています。
写真電子魂について
2015年に設立されたPhoto Electron Soul Inc.は、Nagoya Universityが30年以上栽培および強化された技術に基づいて、Nagoya Universityが立ち上げた新興企業です。産業用途向けに半導体光電極Eビームシステムを供給しているのは、世界で唯一の企業です。この半導体フォトカソードEビームテクノロジーを中心とするため、複数の異なるテクノロジー分野を組み合わせて電子デバイス、ライフサイエンス、エンジニアリングなどの幅広い業界のイノベーションをリードすることで作成された製品とサービスを提供することを目指しています。
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